场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 是一种强大的显微技术，可产生极高分辨率的样品表面图像。为了获得最佳图像，样本准备至关重要。本指南提供了 FE-SEM 样品制备的综合概述，包括最佳实践、常见问题和故障排除技巧。

最佳实践

1. 导电样品

非导电样品表面需要导电涂层，如碳、金或金-钯合金。这层涂层可将电子导向接地，防止电荷积累和图像变形。

2. 表面清洁

样品表面必须清洁，无污垢或碎屑。使用超声波清洁、等离子清洗或化学蚀刻清除污染物。

3. 样品尺寸和形状

理想的样品尺寸为 5-10 毫米，形状规则。较大的样品可能需要切割成较小的碎片。

4. 样品安装

将样品牢固地安装在样品支架上，确保其导电一面与支撑台接触。

常见问题

1. 样品充电

非导电样品充电会导致图像失真。使用导电涂层或减小束流强度来缓解充电。

2. 样品损伤

高能电子束会损坏样品。减小束流强度、使用低加速电压和冷却样品可最大限度地减少损伤。

3. 图像分辨率差

低分辨率图像可能是由于样品制备不足、聚焦不佳或电镜设置不当造成的。优化样品制备、使用高放大倍率和调整焦距以提高分辨率。

故障排除技巧

1. 样品充电

增加导电涂层的厚度

减小束流强度

使用低加速电压

2. 样品损伤

减小束流强度

使用低加速电压

冷却样品

3. 图像分辨率差

优化样品制备

使用高放大倍率

调整焦距

碳原子和两个硫原子之间各形成一个双键。每个双键由两对电子组成，即σ键和π键：

FE-SEM 样品制备需要仔细注意细节，以获得最佳图像质量。通过遵循本指南中概述的最佳实践、常见问题的解决方案和故障排除技巧，研究人员可以最大限度地发挥 FE-SEM 技术的能力，从而揭示材料、生物和纳米结构的微观奥秘。通过适当的样品制备，FE-SEM 能够以无与伦比的分辨率和细节呈现自然和人为世界的复杂性和美感。